德國德爾DUERR NDT
德國德爾DUERR NDT CR射線數碼成像板掃描系統產品介紹:
產品型號:HD-CR系列
產品品牌:德國德爾DUERR NDT
產品類別:掃描系統
產品備注:射線數碼成像板掃描系統
德國德爾DUERR NDT CR射線數碼成像板掃描系統產品概述:
提供了傳統的X射線膠片的數字替代物,實際的應用上,是節省了…底片、洗片機、化學液體、暗房、觀片燈,只要一臺計算機,配合圖像軟件,通過簡易的步驟就能夠取得高分辨率的圖像,而且也大大的減少了成像時間,形成了巨大的優勢,也是近期NDT無損檢測行業的重點產品之一。
UERR?NDT?CR技術及認可
是世界上第一家發展12.5μm激光點掃描器的公司,與相應的高分辨率的熒光物質存貯器成像板,它符合EN?14784和ASTM?2446的所有嚴格的要求,高分辨率成像板和HD-CR裝置結合達到唯一一家CR制造廠可達到的40μm空間分辨率,覆蓋DUERR?NDT公司的兩個型號,包括HD-CR35及HD-CR43。
DUERR?NDT公司也獲得德國有名的BAM證書,也符合ISO?9001、EN和ASTM標準。
CR技術由3個步驟組成
*成像板(IP板)通過X射線或γ射線曝光,曝光引起IP板里的含磷層存貯X射線圖象;
* 在數碼成像板掃描儀上閱讀,期間,聚焦激光束引發存貯的X射線圖象數據以可視光的形態釋放;
發射出的光可采集,通過光電倍增管,轉換成數字化的電信號,最后以數字圖象顯示在聯機計算機的監視器上;同時,在設備內部的擦除器可直接清除IP板的殘留數據,這樣就準備好可以進行下次的曝光。
優點﹕
*數碼膠片可多次重復使用
*不需進行傳統的藥水洗片,如顯影、定影等步驟,也不需暗室,大大降底材料及人工成本
*不間斷地自動進行掃描多張數碼膠片,可自動保存圖像
*能進行圖像處理,如加上編號、缺陷說明等等…
*全自動計算機判別缺陷功能,包括缺陷大小、相對檢測標準的級別等強大的軟件功能
*可提供不同尺寸的高柔軟性數碼膠片(HD-CR35及CR35)
*數碼圖像可永久保存,可省卻儲存傳統底片的空間及其房間的特殊環保條件
德國德爾DUERR NDT CR射線數碼成像板掃描系統產品技術參數:
技術數據 | 數碼成像板掃描儀 | HD-CR?35
NDT |
CR?35
NDT |
HD-CR?43
NDT |
CR?43
NDT |
BSR
(空間分辨率) |
取決于成像板
(通過BAM鑒定) |
40μm | 100μm | 40μm | 100μm |
激光 | 焦點在成像板表面 | 12.5, 25, 50μm | 50μm | 12.5 μm | 50 μm |
尺寸 | (高×寬×深)cm | 40×37×47cm | 40×37×47cm | 113×41×46cm | 113×41×46cm |
重量 | 不包括運輸箱 | 17.5kg | 17.5kg | 56kg | 56kg |
電源 | 100-240V?/?50-60Hz | 140W | 140W | 250W | 250W |
灰度分辨率 | 16位,65.536灰度級 | ● | ● | ● | ● |
最大成像板尺寸 | 35cm寬,長度不限 | ● | ● | ● | ● |
存貯溫度 | -20℃?到60℃ | ● | ● | ● | ● |
工作溫度 | 10℃?–?35℃ | ● | ● | ● | ● |
噪聲水平 | <?49dB(A) | <?49dB(A) | <?39dB(A) | <?39dB(A) | |
PC連接 | 連接方式 | USB?2.0 | USB?2.0 | 太網(TCP-IP協議) | 太網(TCP-IP協議) |
激光等級 | I(EN60825.1) | ● | ● | ● | ● |
軟件 | DURR?NDT?D-Tect | ● | ● | ● | ● |
附件 | 運輸箱、電池可選、成象板等 | ● | ● | ● | ● |
德國德爾DUERR NDT CR射線數碼成像板掃描系統產品應用:
D-TECT?圖像處理系統
由DUERR公司自行開發,適應用戶的需求而不斷的完善,使用快捷方便,功能全面,現已成為非常成熟的軟件。
動態范圍極廣
在厚度差異較大及復雜的鑄件,能夠在一次的曝光后,通過軟件的處理,清楚分辨出缺陷分別在較薄及較厚的位置,能節省多次曝光的時間。
直方圖均值化
在直方圖里灰度值的均值化可同時對不同密度材料進行光學評估。
高對比度濾波器
濾波器允許最優化圖像對比率。
原始數據會無變化的保留。
精細結構濾波器
精細結構濾波器對焊縫檢測十分有利。小的缺陷容易被放大,對比變成最優化。原始圖像數據被保存。
手動測量
內部雜質或裂紋的尺寸可通過使用手動工具確定。
自動壁厚測量
由于可使用任意選擇的測量工具測量壁厚,確定壁厚就變得非常簡單和快速。
不管是手動校準數據的輸入還是曝光參數已經記錄,測量工具都能兼顧到,都可作為X射線照相技術的要求。
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